Difracción de Rayos X para estudio de la Reducción de Precursores Catalíticos.

Abstract

En el presente trabajo de titulación se utilizó la difracción de rayos X acoplada con el método de Rietveld para evaluar la reducción de 3 perovskitas dobles ordenadas: LaNi0,5Ti0,5O3, LaNi0,5Ti0,45Co0,05O3 y LaNi0,45Co0,05Ti0,5O3. El software empleado fue Fullprof Suite Program de uso libre. Los patrones utilizados para comparar los gráficos se obtuvieron de la base de datos ICSD. Las perovskitas fueron sintetizadas mediante el método modificado de Pechini. Se utilizó la fluorescencia de rayos X para determinar la correcta sintetización de las muestras. Se utilizó la Reducción de Temperatura Programada para corroborar la correcta reducción de las muestras. El software utilizado para mostrar los resultados del TPR fue Originpro 8. Los productos de reducción de las muestras de perovskitas dependieron del porcentaje de mezcla reductiva y fueron Ni0, Ni0- Co0 (para las perovskitas que contienen Co), La2O3, La2TiO5 y La2NiO4 no estequiométrico. Se utilizaron dos medios de reducción 1,8% H2/Ar y 10% H2/Ar. El grado de reducción obtenido para LaNi0,5Ti0,5O3 con mezcla reductiva del 1,8% y 10% fue 36,5% y 95,3% respectivamente. Además, para las muestras de LaNi0,5Ti0,45Co0,05O3 y LaNi0,45Co0,05Ti0,5O3 con mezcla reductiva 10% fue de 71,9 y 93,9% respectivamente. No se observó sinterización de níquel para LaNi0,5Ti0,5O3 en donde se aumentó el porcentaje de 1,8 a 10% de mezcla reductiva.